日本bunkoukeiki光譜儀高精度測量單色儀 M25 特點介紹

光學裝置采用我們的改良車爾尼-特納安裝座，可最大限度地減少多重衍射造成的雜散光。

由于光學系統(tǒng)的像差很少，因此可以在每個波長上獲得高度對稱的光譜。

由于衍射光柵更換方便且更換重現(xiàn)性好（±0.1mm以內(nèi)），因此可作為寬帶光譜儀（單色儀）使用。（200nm 至 25μm）

由于可以進行氮氣吹掃，因此也可以在紅外區(qū)域使用。

光學系統(tǒng)采用寬有效面積的衍射光柵，F(xiàn)=4.3時明亮，像差小，出射光在各波長上具有良好的對稱性，從而獲得更高的分辨率。

機構和操作簡單且堅固，因此耐沖擊和振動，狹縫機構幾乎沒有間隙，可實現(xiàn)高精度測量。

由于輸入和輸出狹縫位于相對側，因此很容易與其他光學系統(tǒng)和特殊配件結合使用，從而使您能夠創(chuàng)建適合您預期用途的光譜系統(tǒng)。

通過安裝步進電機波長驅動裝置（可選），可以使用外部脈沖信號或GP-IB進行控制。

日本bunkoukeiki光譜儀高精度測量單色儀 M25 規(guī)格參數(shù)

光學系統(tǒng)類型 不對稱改進的 Czerny-Turner 安裝系統(tǒng)  

 焦距 250毫米 

 孔徑比 F=4.3 

 衍射光柵 標記線有效面積 52 x 52 mm 

 光波長范圍 200～1400nm 　 

 機械波長范圍     0～1400nm　 

 解決 0.1nm（半寬） 

 波長掃描法 正弦桿機構/波長線性掃描 

 波長驅動方式（可選） 步進電機驅動 

 波長精度 ±0.1nm（從正向設定） 

 波長顯示 計數(shù)器顯示最小1nm，最小刻度0.1nm 

 波長重現(xiàn)性 ±0.1nm（從正向設定） 

 雜散光 1×10 -4以下（ λ 0 ±5 nm ，λ 0 =546.1 nm ） 

 輸入/輸出狹縫 寬度：0～4mm（雙開口對稱，連續(xù)可變，最小讀數(shù)刻度0.01mm） 

 篩選 手動滑動方式（最多可安裝6種）*紫外線、紅外線可選