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日本oji-keisoku便攜式橢圓偏振儀測量裝置 PAM-PTB100 本裝置是測量通過平板等偏振板射出的光的偏振狀態(tài)的裝置。一次測量6波長的橢圓率（a/b）和橢圓方位角（Ψ）。測量部和控制器分離，可在任意狀態(tài)下進行測量。

日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100 本裝置以透明試樣為對象，通過平行尼可光譜法測定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸入薄膜厚度，自動計算雙折射N。

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 對光學薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進行測定 無需個人差異，可簡便且短時間內測量

日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉 KOBRA-WFD0系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現(xiàn)長期穩(wěn)定的測量3.日常維護，減少消耗部件標準采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部

日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置 KOBRA-HB系列 1.從超低相位差（2nm以下）到超高相位差（20000nm以下）的廣泛測量范圍2.高精度的測量特別是取向角的高精度化，實現(xiàn)長期穩(wěn)定的測量3.日常維護，減少消耗部件標準采用LED光源，無需更換光源燈4.與KOBRA-W系列共用樣品支架、可選夾具可共用5.考慮操作性與KOBRA-W系列相比較大的開口部